KFD50(DAC線の作成方法[STB-A2試験片]) 簡易取扱説明書

超音波探傷器 KFD50(垂直探傷)

超音波探傷器 KFD50(垂直探傷)

手順[1]事前に行う設定

1入射点の測定 2測定範囲の調整 3STB屈折角の測定

※入射点・測定範囲・屈折角の設定方法は、KFD50(斜角探傷70度)を参照ください。

 

手順[2]メニュー構成 ※DAC線作成前に確認してください。

白色セル:重要度:高
灰色セル:重要度:低

<メニュー:第1階層>

メニュー:第1階層

<メニュー:第2階層>

メニュー:第2階層

<メニュー:第3階層>

メニュー:第3階層

音速、0点調整、屈折角、入射点には、「2-1.事前に行う設定」で求めた数値が入ります。

超音波探傷器 KFD50(垂直探傷)

手順[3]DACエコー 1点目

STB-A2のφ4×4mmの標準きずを使用してDAC線を作成する。DAC線作成前に標準きずの位置を確認しておく。
φ4×4mmの標準きずを0.5S(スキップ)点、1.0S点、1.5S点の三点で探傷する。
図を参照してSTB-A2試験片を裏返し、上から約35mm、左から約90mmの位置にマシン油を塗布する。

手順[3]DACエコー 1点目

手順[4]DACエコー 1点目

マシン油を塗布した位置に斜角探触子を接触させ、0.5Sエコーが表示される位置を探す。
エコーが現れたことを確認し、左上の「矢印上下」キーを押し、0.5Sエコー高さを50〜60%に調整する。
更に前後走査、左右走査、首振り走査を行い、最大エコー高さ位置で斜角探触子を止める。

手順[4]DACエコー 1点目

手順[5]DACエコー 1点目

左上の「矢印上下」キーを押し、エコー高さを80%の高さに調整する。

手順[5]DACエコー 1点目

手順[6]DACエコー 1点目

項目選択キーの「a起点矢印左」キーを1回押す。「矢印左右」キーでゲートを0.5Sエコーに移動する。

手順[6]DACエコー 1点目

手順[7]DACエコー 1点目

「DACエコ矢印左」キーを2回押す。
0.5Sエコーが記録され、DACエコ項目内の数字が「0」から「1」へと表示が切り替わる。

※この時に表示されているゲイン値(今回の例では58.3dB)が、基準のゲイン値となるので、メモを取る。

手順[7]DACエコー 1点目

手順[8]DACエコー 2点目

図を参照してSTB-A2試験片を裏返し、下から約35mm、左から約120mmの位置にマシン油を塗布する。
マシン油を塗布した位置に斜角探触子を接触させ、1.0Sエコーが表示される位置を探す。

手順[8]DACエコー 2点目

手順[9]DACエコー 2点目

エコーが現れたことを確認し、前後走査、左右走査、首振り走査を行い、
1.0Sエコーの最大エコー高さ位置で斜角探触子を止める。

手順[9]DACエコー 2点目

手順[10]DACエコー 2点目

矢印左右」キーでゲートを1.0Sエコーに移動する。

手順[10]DACエコー 2点目

手順[11]DACエコー 2点目

「DACエコ矢印左」キーを2回押す。
1.0Sエコーが記録され、DACエコ項目内の数字が「1」から「2」へと表示が切り替わる。

手順[11]DACエコー 2点目

手順[12]DACエコー 3点目

図を参照してSTB-A2試験片を裏返し、上から約35mm、左から約180mmの位置にマシン油を塗布する。
マシン油を塗布した位置に斜角探触子を接触させ、1.5Sエコーが表示される位置を探す。

手順[12]DACエコー 3点目

手順[13]DACエコー 3点目

エコーが現れたことを確認し、前後走査、左右走査、首振り走査を行い、
1.5Sエコーの最大エコー高さ位置で斜角探触子を止める。

手順[13]DACエコー 3点目

 

手順[14]DACエコー 3点目

矢印左右」キーでゲートを1.5Sエコーに移動する。 「DACエコ矢印左」キーを2回押す。
1.5Sエコーが記録され、DACエコ項目内の数字が「2」から「3」へと表示が切り替わる。

手順[14]DACエコー 3点目

手順[15]DACエコー 3点目

矢印上下」キーを押し、事前に確認しておいた基準のゲイン値(今回の例では58.3dB)に調整をする。
DAC線の全体図を確認する。

手順[15]DACエコー 3点目

 

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