非破壊検査機器・計測器のNDTレンタル SWT-8000IIのご案内

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SWT-8000II


メーカー:サンコウ電子研究所

膜厚計 SWT-8000II
膜厚計 SWT-8000II

1台で磁性・非磁性金属両方の被膜測定ができます。
メモリー機能、データ転送機能を有しないシンプルなモデルです。

また、厚物測定用のオプションプローブも用意しています。

鉄素地用Fe-20(測定範囲:0〜20mm)
非鉄金属素地用NFe-8(測定範囲:0〜8mm)


仕様

特長
特長
型式 SWT-8000II
測定方式 磁気誘導式/渦電流式
測定範囲 磁気誘導式:0〜2.50mm
渦電流式:0〜2.00mm
測定精度 0〜100μm:±1μmまたは指示値の±2%以内
101μm〜2.5mm:±2%以内
分解能 1μm:0〜999μm
切替により0.1μm:0〜400μm、0.5μm:400〜500μm
0.01mm:1.00〜2.00mm(渦電流式)
0.01mm:1.00〜2.50mm(磁気誘導式)
使用温度範囲 0〜40℃(結露なきこと)
測定値メモリー -
外部出力 -
寸法 72(W)×30(D)×156(H)mm
重量 200g
電源 単3乾電池×2
電池寿命 24時間(アルカリ)
オプション 鉄素地用プローブ/Fe-20、
非鉄金属素地用プローブ/Nfe-8

※オプション品は別料金設定となります。


付属品

  • 鉄素地用プローブ(Fe-2.5)
  • 非鉄金属素地用プローブ(Nfe-2.0)
  • 標準厚板×3
  • テスト用ゼロ板(鉄用)
  • テスト用ゼロ板(非鉄用)

※こちらの製品には、代金引換はご利用できません。



モデル 商品画像 品名 価格(税込)
SWT-8000II-5 膜厚計 SWT-8000II 5日間

膜厚計 SWT-8000II 5日間


価格:29,000円
(税込:31,900円)
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SWT-8000II-10 膜厚計 SWT-8000II 10日間

膜厚計 SWT-8000II 10日間


価格:35,000円
(税込:38,500円)
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SWT-8000II-20 膜厚計 SWT-8000II 20日間

膜厚計 SWT-8000II 20日間


価格:55,000円
(税込:60,500円)
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SWT-8000II-40 膜厚計 SWT-8000II 40日間

膜厚計 SWT-8000II 40日間


価格:89,000円
(税込:97,900円)
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SWT-8000II-80 膜厚計 SWT-8000II 80日間

膜厚計 SWT-8000II 80日間


価格:158,000円
(税込:173,800円)
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SWT-8000II-1E 膜厚計 SWT-8000II 1日延長

膜厚計 SWT-8000II 1日延長


価格:2,300円
(税込:2,530円)
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CAL-CERT-4300 校正証明書

校正証明書


価格:4,300円
(税込:4,730円)
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CERT-1500 検査成績書

検査成績書


価格:1,500円
(税込:1,650円)
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