電磁/渦流式膜厚計(デュアルタイプ)

電磁式と渦流式の両方を搭載した、デュアルタイプの膜厚計です。鉄・非鉄金属両方に対応します。
◆磁性金属上の非磁性被膜の測定
素地:鉄などの磁石にくっつく磁性金属
被膜:塗装、ライニング、メッキ(電解ニッケルメッキは除く)、ニス、エナメル、クロム等の非磁性被膜
◆非磁性金属上の絶縁被膜の測定
素地:アルミ、銅などの非磁性金属
被膜:塗装、ライニング、陽極酸化被膜、プラスチック、ゴム等の絶縁性被膜

仕様比較表

種類 本体・プローブ分離型
型式 KC-260FN CM30FN SWT-8000II SWT-82008200II SWT-9000
レンタル価格
(5日間)
18,700円 18,700円 33,000円 39,050円 33,000円
外観 デュアル膜厚計(プローブ分離型) KC-260FNへのリンク デュアル膜厚計(プローブ分離型) CM30FNへのリンク デュアル膜厚計(プローブ分離型) SWT-8000IIへのリンク デュアル膜厚計(プローブ分離型) SWT-8200へのリンク デュアル膜厚計(プローブ分離型) SWT-9000へのリンク
測定範囲 0〜1,500µm 0〜1,500µm 電磁誘導式:0〜2.50mm
渦電流式:0〜2.00mm
電磁誘導式:0〜3.00mm
渦電流式:0〜2.50mm
測定精度 2点校正時:±(1%H+1)µm
ゼロ点校正時:±(2%H+1)µm
2点校正時:±(1%H+2)µm
ゼロ点校正時:±(2%H+2)µm
0〜100µm:±1µmまたは指示値の±2%以内
101µm〜:±2%以内
分解能 100µm未満:0.1µm
100µm以上:1µm
1000µm(1mm)以上:0.01mm
100µm未満:0.1µm
100µm以上:1µm
1000µm以上:0.01mm
0.1µm:0〜400µm
0.5µm:400〜500µm
1µm:0〜999µm
0.01mm:1.00〜2.00mm(渦流)
0.01mm:1.00〜2.50mm(電磁)
0.1µm:0〜400µm
0.5µm:400〜500µm
1µm:0〜999µm
0.01mm:1〜2.5mm(渦流)
0.01mm:1〜3.0mm(電磁)
データメモリー数  - 200ファイル(200,000件) - 10,000点 -
オプション 校正証明書・検査成績書は
標準で付属
校正証明書・検査成績書は
標準で付属
厚物用プローブ(鉄) Fe-20 *、厚物用プローブ(非鉄) NFe-8 *
* SWT-8200は非対応
校正証明書
種類 本体・プローブ一体型
型式 KC-210
レンタル価格
(5日間)
14,300円
外観 デュアル膜厚計(プローブ一体型) KC-210へのリンク
測定範囲 0〜1,250µm
測定精度 電磁式(鉄)
1点校正時:±(2%+1)µm
2点校正時:±(1%+1)µm
渦流式(非鉄)
1点校正時:±(2%+1.5)µm
2点校正時:±(1%+1.5)µm
分解能 1µm
データメモリー数 100件
オプション 校正証明書・検査成績書は
標準で付属
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