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CAL-CERT-4300
校正証明書・検査成績書・トレーサビリティー体系図(コピー)の販売。
※装置と同時注文に限る。価格（税込）：4,730円〜
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KC-210
測定範囲0～1,250μmのポケットサイズの膜厚計。鉄・非鉄金属を自動で判別し測定。校正証明書が標準で付属。
価格（税込）：14,300円〜
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KC-260FN
電磁式・渦流式ともに測定範囲0～1,500μmの膜厚計。PCへのデータ転送も可能。校正証明書が標準で付属。
価格（税込）：18,700円〜
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CM30FN
測定精度・応答速度・機能を向上させた最新設計のデュアル膜厚計の高性能モデル。校正証明書が標準で付属。
価格（税込）：18,700円〜
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NFe-8
SWT-8000II/8200II/9000用の厚物測定用の非鉄素地用（渦流式）プローブ。
測定範囲は0～8mm。価格（税込）：24,200円〜
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Fe-20
SWT-8000II/8200II/9000用の厚物測定用の鉄素地用（電磁式）プローブ。
測定範囲は0～20mm。価格（税込）：24,200円〜
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SWT-9000
測定範囲が電磁式0～3,000μm、渦流式0～2,500μmの膜厚計。オプションの厚物測定用プローブでより厚みのある被膜測定も可能。
価格（税込）：33,000円〜
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SWT-8000II
測定範囲が電磁式0～2,500μm、渦流式0～2,000μmの膜厚計。オプションの厚物測定用プローブでより厚みのある被膜測定も可能。
価格（税込）：33,000円〜
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SWT-8200II
測定範囲が電磁式0～2,500μm、渦流式0～2,000μmの膜厚計。SWT-8200の機能に加えオプションの厚物測定用プローブも対応。
価格（税込）：39,050円〜
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SWT-8200
測定範囲が電磁式0～2,500μm、渦流式0～2,000μmの膜厚計。測定値のメモリ機能を搭載し、USBでPCへのデータ転送も可能。
価格（税込）：39,050円〜
電磁/渦流式膜厚計（デュアルタイプ）
電磁式と渦流式の両方を搭載した、デュアルタイプの膜厚計です。鉄・非鉄金属両方に対応します。
◆磁性金属上の非磁性被膜の測定
素地：鉄などの磁石にくっつく磁性金属
被膜：塗装、ライニング、メッキ（電解ニッケルメッキは除く）、ニス、エナメル、クロム等の非磁性被膜
◆非磁性金属上の絶縁被膜の測定
素地：アルミ、銅などの非磁性金属
被膜：塗装、ライニング、陽極酸化被膜、プラスチック、ゴム等の絶縁性被膜
仕様比較表
| 種類 | 本体・プローブ分離型 | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| 型式 | KC-260FN | CM30FN | SWT-8000II | SWT-8200 ／ 8200II | SWT-9000 |
| レンタル価格 （5日間） |
18,700円 | 18,700円 | 33,000円 | 39,050円 | 33,000円 |
| 外観 |  |
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| 測定範囲 | 0〜1,500µm | 0〜1,500µm | 電磁誘導式：0〜2.50mm 渦電流式：0〜2.00mm |
電磁誘導式：0〜3.00mm 渦電流式：0〜2.50mm |
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| 測定精度 | 2点校正時：±(1%H+1)µm ゼロ点校正時：±(2%H+1)µm |
2点校正時：±(1%H+2)µm ゼロ点校正時：±(2%H+2)µm |
0〜100µm：±1µmまたは指示値の±2%以内 101µm〜：±2%以内 |
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| 分解能 | 100µm未満：0.1µm 100µm以上：1µm 1000µm(1mm)以上：0.01mm |
100µm未満：0.1µm 100µm以上：1µm 1000µm以上：0.01mm |
0.1µm：0〜400µm 0.5µm：400〜500µm 1µm：0〜999µm 0.01mm：1.00〜2.00mm（渦流） 0.01mm：1.00〜2.50mm（電磁） |
0.1µm：0〜400µm 0.5µm：400〜500µm 1µm：0〜999µm 0.01mm：1〜2.5mm(渦流) 0.01mm：1〜3.0mm(電磁) |
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| データメモリー数 | - | 200ファイル（200,000件） | - | 10,000点 | - |
| オプション | 校正証明書・検査成績書は 標準で付属 |
校正証明書・検査成績書は 標準で付属 |
厚物用プローブ(鉄) Fe-20 *、厚物用プローブ(非鉄) NFe-8 * * SWT-8200は非対応 校正証明書 |
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| 種類 | 本体・プローブ一体型 |
|---|---|
| 型式 | KC-210 |
| レンタル価格 （5日間） |
14,300円 |
| 外観 |  |
| 測定範囲 | 0〜1,250µm |
| 測定精度 | 電磁式(鉄) 1点校正時：±(2%+1)µm 2点校正時：±(1%+1)µm 渦流式(非鉄) 1点校正時：±(2%+1.5)µm 2点校正時：±(1%+1.5)µm |
| 分解能 | 1µm |
| データメモリー数 | 100件 |
| オプション | 校正証明書・検査成績書は 標準で付属 |
プローブ分離型
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KC-260FN
電磁式・渦流式ともに測定範囲0～1,500μmの膜厚計。PCへのデータ転送も可能。校正証明書が標準で付属。
価格（税込）：18,700円〜
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CM30FN
測定精度・応答速度・機能を向上させた最新設計のデュアル膜厚計の高性能モデル。校正証明書が標準で付属。
価格（税込）：18,700円〜
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SWT-8000II
測定範囲が電磁式0～2,500μm、渦流式0～2,000μmの膜厚計。オプションの厚物測定用プローブでより厚みのある被膜測定も可能。
価格（税込）：33,000円〜
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SWT-8200
測定範囲が電磁式0～2,500μm、渦流式0～2,000μmの膜厚計。測定値のメモリ機能を搭載し、USBでPCへのデータ転送も可能。
価格（税込）：39,050円〜
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SWT-8200II
測定範囲が電磁式0～2,500μm、渦流式0～2,000μmの膜厚計。SWT-8200の機能に加えオプションの厚物測定用プローブも対応。
価格（税込）：39,050円〜
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SWT-9000
測定範囲が電磁式0～3,000μm、渦流式0～2,500μmの膜厚計。オプションの厚物測定用プローブでより厚みのある被膜測定も可能。
価格（税込）：33,000円〜
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