電磁/渦流式膜厚計(デュアルタイプ)
電磁式と渦流式の両方を搭載した、デュアルタイプの膜厚計です。鉄・非鉄金属両方に対応します。
◆磁性金属上の非磁性被膜の測定
素地: 鉄等の磁性金属
被膜: 塗装、ライニング、メッキ(電解ニッケルメッキは除く)、ニス、エナメル、クロム等の非磁性被膜
◆非磁性金属上の絶縁被膜の測定
素地: アルミ、銅などの非磁性金属
被膜: 塗装、ライニング、陽極酸化被膜、プラスチック、ゴム等の絶縁性被膜
仕様比較表
種類 | 本体・プローブ分離型 | 本体・プローブ一体型 | |||
---|---|---|---|---|---|
型式 | KC-260FN | SWT-8000II | SWT-8200 / 8200II | SWT-9000 | KC-210 |
レンタル価格 (5日間) |
円 | 円 | 円 | 円 | 円 |
外観 | ![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
測定範囲 | 0〜1,500μm | 電磁誘導式:0〜2.50mm 渦電流式:0〜2.00mm |
電磁誘導式:0〜3.00mm 渦電流式:0〜2.50mm |
0〜1,250μm | |
測定精度 | 2点校正時:±(1%H+1)μm ゼロ点校正時:±(2%H+1)μm |
0〜100μm:±1μmまたは指示値の±2%以内 101μm〜:±2%以内 |
電磁式(鉄) 1点校正時:±(2%+1)μm 2点校正時:±(1%+1)μm 渦流式(非鉄) 1点校正時:±(2%+1.5)μm 2点校正時:±(1%+1.5)μm |
||
分解能 | 100μm未満:0.1μm 100μm以上:1μm 1000μm(1mm)以上:0.01mm |
0.1μm:0〜400μm 0.5μm:400〜500μm 1μm:0〜999μm 0.01mm:1.00〜2.00mm(渦流) 0.01mm:1.00〜2.50mm(電磁) |
0.1μm:0〜400μm 0.5μm:400〜500μm 1μm:0〜999μm 0.01mm:1〜2.5mm(渦流) 0.01mm:1〜3.0mm(電磁) |
1μm | |
データメモリー数 | - | - | 10,000点 | - | 100件 |
オプション | 校正証明書・検査成績書は 標準で付属 |
プローブ(Fe-20)*、プローブ(NFe-8)* * SWT-8200には使用できません 校正証明書、検査成績書 |
校正証明書・検査成績書は 標準で付属 |
本体・プローブ分離型
価格(税込): 円〜
電磁式・渦流式ともに、測定範囲0〜1,500μmの膜厚計です。校正証明書と検査成績書が標準で付属するお勧めの装置です。
価格(税込): 円〜
測定範囲は、電磁式0〜2,500μm、渦流式0〜2,000μmです。オプションの厚物測定用プローブでより厚みのある被膜の測定も可能です。
価格(税込): 円〜
測定範囲は、電磁式0〜2,500μm、渦流式0〜2,000μmです。測定値のメモリ機能を搭載しており、USBでPCへのデータ転送が可能です。
価格(税込): 円〜
測定範囲が電磁式0〜2,500μm、渦流式0〜2,000μmの膜厚計です。SWT-8200の機能に加え、オプションで厚物測定用のプローブが付替可能です。
価格(税込): 円〜
測定範囲が電磁式0〜3,000μm、渦流式0〜2,500μmの膜厚計です。厚物測定用のオプションプローブも用意しています。
本体・プローブ一体型
価格(税込): 円〜
測定範囲0〜1,250μmのポケットサイズの膜厚計です。鉄・非鉄金属を自動で判別し測定します。校正証明書と検査成績書が標準で付属します。
オプション
価格(税込):円〜
SWT-8000II/8200II用の厚物測定用の鉄素地用(電磁式)プローブです。
価格(税込):円
SWT-8000II/8200II用の厚物測定用の非鉄素地用(渦流式)プローブです。
価格(税込): 円
校正証明書です。検査成績書とトレーサビリティー体系図がセットになっています。
本体と同時にご注文ください。
価格(税込): 円
検査成績書です。本体と同時にご注文ください。 *校正証明書とトレーサビリティー体系図は付いていません。