電磁/渦流式膜厚計（デュアルタイプ）
電磁式と渦流式の両方を搭載した、デュアルタイプの膜厚計です。鉄・非鉄金属両方に対応します。
◆磁性金属上の非磁性被膜の測定
素地： 鉄等の磁性金属
被膜： 塗装、ライニング、メッキ（電解ニッケルメッキは除く）、ニス、エナメル、クロム等の非磁性被膜
◆非磁性金属上の絶縁被膜の測定
素地： アルミ、銅などの非磁性金属
被膜： 塗装、ライニング、陽極酸化被膜、プラスチック、ゴム等の絶縁性被膜
仕様比較表
| 種類 | 本体・プローブ分離型 | 本体・プローブ一体型 | |||
|---|---|---|---|---|---|
| 型式 | KC-260FN | SWT-8000II | SWT-8200 ／ 8200II | SWT-9000 | KC-210 |
| レンタル価格 （5日間） |
円 | 円 | 円 | 円 | 円 |
| 外観 |  |
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| 測定範囲 | 0〜1,500μm | 電磁誘導式：0〜2.50mm 渦電流式：0〜2.00mm |
電磁誘導式：0〜3.00mm 渦電流式：0〜2.50mm |
0〜1,250μm | |
| 測定精度 | 2点校正時：±(1%H+1)μm ゼロ点校正時：±(2%H+1)μm |
0〜100μm：±1μmまたは指示値の±2%以内 101μm〜：±2%以内 |
電磁式(鉄) 1点校正時：±(2%+1)μm 2点校正時：±(1%+1)μm 渦流式(非鉄) 1点校正時：±(2%+1.5)μm 2点校正時：±(1%+1.5)μm |
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| 分解能 | 100μm未満：0.1μm 100μm以上：1μm 1000μm(1mm)以上：0.01mm |
0.1μm：0〜400μm 0.5μm：400〜500μm 1μm：0〜999μm 0.01mm：1.00〜2.00mm（渦流） 0.01mm：1.00〜2.50mm（電磁） |
0.1μm：0〜400μm 0.5μm：400〜500μm 1μm：0〜999μm 0.01mm：1〜2.5mm(渦流) 0.01mm：1〜3.0mm(電磁) |
1μm | |
| データメモリー数 | - | - | 10,000点 | - | 100件 |
| オプション | 校正証明書・検査成績書は 標準で付属 |
プローブ（Fe-20）*、プローブ（NFe-8）* * SWT-8200には使用できません 校正証明書、検査成績書 |
校正証明書・検査成績書は 標準で付属 |
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本体・プローブ分離型
価格（税込）： 円〜
電磁式・渦流式ともに、測定範囲0〜1,500μmの膜厚計です。校正証明書と検査成績書が標準で付属するお勧めの装置です。
価格（税込）： 円〜
測定範囲は、電磁式0〜2,500μm、渦流式0〜2,000μmです。オプションの厚物測定用プローブでより厚みのある被膜の測定も可能です。
価格（税込）： 円〜
測定範囲は、電磁式0〜2,500μm、渦流式0〜2,000μmです。測定値のメモリ機能を搭載しており、USBでPCへのデータ転送が可能です。
8200II価格（税込）： 円〜
測定範囲が電磁式0〜2,500μm、渦流式0〜2,000μmの膜厚計です。SWT-8200の機能に加え、オプションで厚物測定用のプローブが付替可能です。
価格（税込）： 円〜
測定範囲が電磁式0〜3,000μm、渦流式0〜2,500μmの膜厚計です。厚物測定用のオプションプローブも用意しています。
本体・プローブ一体型
価格（税込）： 円〜
測定範囲0〜1,250μmのポケットサイズの膜厚計です。鉄・非鉄金属を自動で判別し測定します。校正証明書と検査成績書が標準で付属します。
オプション
価格（税込）：円〜
SWT-8000II/8200II用の厚物測定用の鉄素地用（電磁式）プローブです。
価格（税込）：円
SWT-8000II/8200II用の厚物測定用の非鉄素地用（渦流式）プローブです。
校正証明書価格（税込）： 円
校正証明書です。検査成績書とトレーサビリティー体系図がセットになっています。
本体と同時にご注文ください。
検査成績書価格（税込）： 円
検査成績書です。本体と同時にご注文ください。 ＊校正証明書とトレーサビリティー体系図は付いていません。
