電磁／渦流式
電磁式と渦流式の両方を搭載した、デュアルタイプの膜厚計です。鉄・非鉄金属両方に対応します。
◆磁性金属上の非磁性被膜の測定
素地： 鉄等の磁性金属
被膜： 塗装、ライニング、メッキ（電解ニッケルメッキは除く）、ニス、エナメル、クロム等の非磁性被膜
◆非磁性金属上の絶縁被膜の測定
素地： アルミ、銅などの非磁性金属
被膜： 塗装、ライニング、陽極酸化被膜、プラスチック、ゴム等の絶縁性被膜
| 型式 | KC-260FN | SWT-8000II | SWT-8200 ／ 8200II | SWT-9000 |
|---|---|---|---|---|
| レンタル価格 （5日間） |
円 | 円 | 円 | 円 |
| 外観 |  |
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| 測定範囲 | 0〜1,500μm | 電磁誘導式：0〜2.50mm 渦電流式：0〜2.00mm |
電磁誘導式：0〜3.00mm 渦電流式：0〜2.50mm |
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| 測定精度 | 二点校正実施時±(1%H+1)μm ゼロ点校正実施時±(2%H+2)μm |
0〜100μm：±1μmまたは指示値の±2%以内 101μm〜2.50mm：±2%以内 |
0〜100μm：±1μmまたは指示値の±2%以内 101μm〜3.00mm：±2%以内 |
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| 分解能 | 100μm未満：0.1μm 100μm以上：1μm 1000μm(1mm)以上：0.01mm |
0.1μm：0〜400μm 0.5μm：400〜500μm 1μm：0〜999μm 0.01mm：1.00〜2.00mm（渦流） 0.01mm：1.00〜2.50mm（電磁） |
0.1μm：0〜400μm 0.5μm：400〜500μm 1μm：0〜999μm 0.01mm：1.00〜2.50mm(渦流) 0.01mm：1.00〜3.00mm(電磁) |
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| データメモリー数 | - | - | 10,000点 | - |
| オプション ・消耗品 |
校正証明書・検査成績書は、 標準で付属 |
プローブ（Fe-20）*、プローブ（NFe-8）* * SWT-8200には使用できません 校正証明書、検査成績書 |
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| 型式 | KC-210 |
|---|---|
| レンタル価格 （5日間） |
円 |
| 外観 |  |
| 測定範囲 | 0〜1,250μm |
| 測定精度 |
電磁式(鉄)
渦流式(非鉄)1点校正実施時：±(2%+1)μm 2点校正実施時：±(1%+1)μm 1点校正実施時：±(2%+1.5)μm 2点校正実施時：±(1%+1.5)μm |
| 分解能 | 1μm |
| データメモリー数 | 100件 |
| オプション | 校正証明書・検査成績書は、 標準で付属 |
デュアル（電磁／渦流式）膜厚計
デュアル膜厚計
SWT-8000II
価格（税込）：円〜
電磁式で0〜2,500μm、渦流式で0〜2,000μmの測定範囲です。
オプションの厚物測定用プローブでより厚みのある被膜の測定も可能です。
サンコウ電子研究所
デュアル膜厚計
SWT-9000
価格（税込）：
円〜
1台で磁性、非磁性金属の被膜測定ができます。メモリー機能、データ転送機能を有しないシンプルなモデルです。また、厚物測定用のオプションプローブも用意しています。
サンコウ電子研究所
