非破壊検査機器・計測器のNDTレンタル 電磁/渦流式膜厚計(デュアルタイプ)のご案内

Loading

こんにちは、ゲスト様

ポイント0ポイント

電磁/渦流式膜厚計(デュアルタイプ)

電磁式と渦流式の両方を搭載した、デュアルタイプの膜厚計です。鉄・非鉄金属両方に対応します。
◆磁性金属上の非磁性被膜の測定
素地: 鉄等の磁性金属
被膜: 塗装、ライニング、メッキ(電解ニッケルメッキは除く)、ニス、エナメル、クロム等の非磁性被膜
◆非磁性金属上の絶縁被膜の測定
素地: アルミ、銅などの非磁性金属
被膜: 塗装、ライニング、陽極酸化被膜、プラスチック、ゴム等の絶縁性被膜

仕様比較表

種類 本体・プローブ分離型 本体・プローブ一体型
型式 KC-260FN SWT-8000II SWT-82008200II SWT-9000 KC-210
レンタル価格
(5日間)
外観
測定範囲 0〜1,500μm 電磁誘導式:0〜2.50mm
渦電流式:0〜2.00mm
電磁誘導式:0〜3.00mm
渦電流式:0〜2.50mm
0〜1,250μm
測定精度 2点校正時:±(1%H+1)μm
ゼロ点校正時:±(2%H+1)μm
0〜100μm:±1μmまたは指示値の±2%以内
101μm〜:±2%以内
電磁式(鉄)
1点校正時:±(2%+1)μm
2点校正時:±(1%+1)μm
渦流式(非鉄)
1点校正時:±(2%+1.5)μm
2点校正時:±(1%+1.5)μm
分解能 100μm未満:0.1μm
100μm以上:1μm
1000μm(1mm)以上:0.01mm
0.1μm:0〜400μm
0.5μm:400〜500μm
1μm:0〜999μm
0.01mm:1.00〜2.00mm(渦流)
0.01mm:1.00〜2.50mm(電磁)
0.1μm:0〜400μm
0.5μm:400〜500μm
1μm:0〜999μm
0.01mm:1〜2.5mm(渦流)
0.01mm:1〜3.0mm(電磁)
1μm
データメモリー数  - - 10,000点 - 100件
オプション 校正証明書・検査成績書は
標準で付属
プローブ(Fe-20)*プローブ(NFe-8)*
* SWT-8200には使用できません
校正証明書検査成績書
校正証明書・検査成績書は
標準で付属

本体・プローブ分離型

価格(税込): 円〜

電磁式・渦流式ともに、測定範囲0〜1,500μmの膜厚計です。校正証明書と検査成績書が標準で付属するお勧めの装置です。

価格(税込): 円〜

測定範囲は、電磁式0〜2,500μm、渦流式0〜2,000μmです。オプションの厚物測定用プローブでより厚みのある被膜の測定も可能です。

価格(税込): 円〜

測定範囲は、電磁式0〜2,500μm、渦流式0〜2,000μmです。測定値のメモリ機能を搭載しており、USBでPCへのデータ転送が可能です。

価格(税込): 円〜

測定範囲が電磁式0〜2,500μm、渦流式0〜2,000μmの膜厚計です。SWT-8200の機能に加え、オプションで厚物測定用のプローブが付替可能です。

価格(税込): 円〜

測定範囲が電磁式0〜3,000μm、渦流式0〜2,500μmの膜厚計です。厚物測定用のオプションプローブも用意しています。

本体・プローブ一体型

価格(税込): 円〜

測定範囲0〜1,250μmのポケットサイズの膜厚計です。鉄・非鉄金属を自動で判別し測定します。校正証明書と検査成績書が標準で付属します。

オプション

価格(税込):円〜

SWT-8000II/8200II用の厚物測定用の鉄素地用(電磁式)プローブです。

価格(税込):

SWT-8000II/8200II用の厚物測定用の非鉄素地用(渦流式)プローブです。

価格(税込):

校正証明書です。検査成績書とトレーサビリティー体系図がセットになっています。
本体と同時にご注文ください。

価格(税込):

検査成績書です。本体と同時にご注文ください。 *校正証明書とトレーサビリティー体系図は付いていません。

NDTレンタル
Copyright © NDTrental.jp

お問い合わせ 電話0487835991 Fax0487835059